机译:使用常规ATPG的组合逻辑电路中的功能故障对等和诊断测试生成
机译:使用组合式ATPG进行非循环时序电路测试以解决单个卡死故障
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机译:使用ATPG的故障等价和诊断测试生成
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:基于极限学习机的模拟电路故障检测测试生成算法
机译:具有单滞留故障组合式ATPG的非循环时序电路的测试生成
机译:组合逻辑电路的最小故障测试时序设计和可测试实现